Публікація:
Дифракционный ответвитель для измерения характеристик лазерного излучения

dc.contributor.authorЕпишин, В. А.
dc.contributor.authorНеофитный, М. В.
dc.date.accessioned2018-06-13T12:36:10Z
dc.date.available2018-06-13T12:36:10Z
dc.date.issued1982
dc.description.abstractС целью применения дифракционных структур для измерения характеристик лазерного излучения проведено исследование дифракции этого излучения на редких проволочных решетках, включая случаи непериодического расположения проводников. Теоретическое рассмотрение выполнено в приближении однократного рассеяния падающего излучения дифракционно не взаимодействующими элементами редких решеток. Подробно изучена дифракция Френеля, при которой обнаружено новое свойство — отображение при определенных параметрах реше­ток диаграммы направленности падающего пучка, что позволяет упростить существующие схемы измерения характеристик излучения и увеличить диапазон измеряемых величин. Показано, что неэквидистантная решетка, обладающая, указанным свойством, вносит меньше искажений в прошедший пучок при дифракции Френеля, чем периодическая. Исследована поляризационная зависимость рассеянного поля, позволяющая применять данные ответвители для определе­ния направления поляризации.uk_UA
dc.identifier.citationЕпишин В. А. Дифракционный ответвитель для измерения характеристик лазерного излучения / В. А. Епишин, М. В. Неофитный. // Квантовая электроника. – 1982. – Том 9, №4. – С. 718–725.uk_UA
dc.identifier.urihttp://openarchive.nure.ua/handle/document/6135
dc.language.isoruuk_UA
dc.publisherФизический институт им. П.Н. Лебедева РАНuk_UA
dc.titleДифракционный ответвитель для измерения характеристик лазерного излученияuk_UA
dc.typeArticleuk_UA
dspace.entity.typePublication

Файли

Оригінальний пакет
Зараз показано 1 - 1 з 1
Завантаження...
Зображення мініатюри
Назва:
QE_1981.pdf
Розмір:
1.44 MB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Ліцензійний пакет
Зараз показано 1 - 1 з 1
Немає доступних мініатюр
Назва:
license.txt
Розмір:
9.42 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис: