Публікація: Дифракционный ответвитель для измерения характеристик лазерного излучения
Завантаження...
Дата
1982
Автори
Назва журналу
ISSN журналу
Назва тома
Видавництво
Физический институт им. П.Н. Лебедева РАН
Анотація
С целью применения дифракционных структур для измерения характеристик лазерного излучения проведено исследование дифракции этого излучения на редких проволочных решетках, включая случаи непериодического расположения проводников. Теоретическое рассмотрение выполнено в приближении однократного рассеяния падающего излучения дифракционно не взаимодействующими элементами редких решеток. Подробно изучена дифракция Френеля, при которой обнаружено новое свойство — отображение при определенных параметрах решеток диаграммы направленности падающего пучка, что позволяет упростить существующие схемы измерения характеристик излучения и увеличить диапазон измеряемых величин. Показано, что неэквидистантная решетка, обладающая, указанным свойством, вносит меньше искажений в прошедший пучок при дифракции Френеля, чем периодическая. Исследована поляризационная зависимость рассеянного поля, позволяющая применять данные ответвители для определения направления поляризации.
Опис
Ключові слова
Бібліографічний опис
Епишин В. А. Дифракционный ответвитель для измерения характеристик лазерного излучения / В. А. Епишин, М. В. Неофитный. // Квантовая электроника. – 1982. – Том 9, №4. – С. 718–725.