Отображение процессов проявления технологической наследственности электронной техники

Невлюдов, И. Ш.; Роздоловский, Ю. М.

Публікація:
Отображение процессов проявления технологической наследственности электронной техники

dc.contributor.author	Невлюдов, И. Ш.
dc.contributor.author	Роздоловский, Ю. М.
dc.date.accessioned	2021-05-03T12:19:56Z
dc.date.available	2021-05-03T12:19:56Z
dc.date.issued	2003
dc.description.abstract	Рассмотрены методы отображения информации о развитии дефектов, проявляемых как технологическая наследственность электронной техники. Предлагается модель процесса развития дефектов, разработанная на основе термодинамического подхода, который устанавливает соответствие между реальным и отображаемым объектами. Приведенный алгоритм дает возможность наблюдать процесс на экране монитора и принимать решения о корректировке технологии производства изделий электронной техники.	uk_UA
dc.identifier.citation	Невлюдов И. Ш. Отображение процессов проявления технологической наследственности электронной техники / И. Ш. Невлюдов, Ю. М. Роздоловский // Радиотехника : Всеукр. межвед. науч.–техн. сб. – 2003. – Вып. 133. – С. 218–221.	uk_UA
dc.identifier.uri	https://openarchive.nure.ua/handle/document/15823
dc.language.iso	ru	uk_UA
dc.publisher	ХНУРЭ	uk_UA
dc.subject	радиотехника	uk_UA
dc.subject	развитие дефектов	uk_UA
dc.title	Отображение процессов проявления технологической наследственности электронной техники	uk_UA
dc.type	Article	uk_UA
dspace.entity.type	Publication