Публікація: Отображение процессов проявления технологической наследственности электронной техники
Завантаження...
Дата
Назва журналу
ISSN журналу
Назва тому
Видавець
ХНУРЭ
Анотація
Рассмотрены методы отображения информации о развитии дефектов, проявляемых как технологическая наследственность электронной техники. Предлагается модель процесса развития дефектов, разработанная на
основе термодинамического подхода, который устанавливает соответствие между реальным и отображаемым объектами. Приведенный алгоритм дает возможность наблюдать процесс на экране монитора и принимать решения о корректировке технологии производства изделий электронной техники.
Опис
Ключові слова
радиотехника, развитие дефектов
Цитування
Невлюдов И. Ш. Отображение процессов проявления технологической наследственности электронной техники / И. Ш. Невлюдов, Ю. М. Роздоловский // Радиотехника : Всеукр. межвед. науч.–техн. сб. – 2003. – Вып. 133. – С. 218–221.