Публікація:
Аналіз надійності ПЛІС. Порівняння ризиків, пов’язаних з використанням ПЛІС і мікропроцесорів

dc.contributor.authorЧумак, В. С.
dc.contributor.authorСвид, І. В.
dc.date.accessioned2020-09-27T11:07:46Z
dc.date.available2020-09-27T11:07:46Z
dc.date.issued2020
dc.description.abstractIn the process of developing fault-tolerant and guaranteed systems, which begins with thorough preparation for the project and ends with multi-level verification and testing, the moment of choosing the optimal element base, which should meet certain requirements.uk_UA
dc.identifier.citationЧумак В. С. Аналіз надійності ПЛІС. Порівняння ризиків, пов’язаних з використанням ПЛІС і мікропроцесорів. Науковий керівник – к.т.н., доц. Свид І.В. // 24-й Міжнародний молодіжний форум «Радіоелектроніка та молодь у ХХІ столітті». Зб. матеріалів форуму. Т. 3. – Харків: ХНУРЕ, 2020. – С. 186-187.uk_UA
dc.identifier.urihttp://openarchive.nure.ua/handle/document/13388
dc.language.isoruuk_UA
dc.publisherХНУРЕuk_UA
dc.subjectПЛІСuk_UA
dc.subjectмікропроцесорuk_UA
dc.subjectпорівняння ризиківuk_UA
dc.subjectпорівняльний аналізuk_UA
dc.titleАналіз надійності ПЛІС. Порівняння ризиків, пов’язаних з використанням ПЛІС і мікропроцесорівuk_UA
dc.typeThesisuk_UA
dspace.entity.typePublication

Файли

Оригінальний пакет
Зараз показано 1 - 1 з 1
Завантаження...
Зображення мініатюри
Назва:
T3_186_187.pdf
Розмір:
266.89 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Ліцензійний пакет
Зараз показано 1 - 1 з 1
Немає доступних мініатюр
Назва:
license.txt
Розмір:
9.42 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис: