Прогнозные оценки надежности монокристаллических кремниевых фотопреобразователей

Слипченко, Н. И.; Письменецкий, В. А.; Фролов, A. B.

Публікація:
Прогнозные оценки надежности монокристаллических кремниевых фотопреобразователей

dc.contributor.author	Слипченко, Н. И.
dc.contributor.author	Письменецкий, В. А.
dc.contributor.author	Фролов, A. B.
dc.date.accessioned	2025-01-13T09:11:12Z
dc.date.available	2025-01-13T09:11:12Z
dc.date.issued	2009
dc.description.abstract	The regressive models of temperature degradation of optimum tension and temporal degradation of current of loading of silicic monocrystalline photoconverter are offered providing the calculation of conditional intensity of refusals of these devices depending on the levels of degradation of the indicated parameters and energy of activating.
dc.identifier.citation	Слипченко Н. И. Прогнозные оценки надежности монокристаллических кремниевых фотопреобразователей / Н. И. Слипченко, В. А. Письменецкий, A. B. Фролов // Электронная компонентная база. Состояние и перспективы развития : материалы 2-ой Междунар. научн. конф., 30 сентября-3 октября 2009 г. – Харьков-Кацивели : ХНУРЭ, 2009 г. – С. 194–197.
dc.identifier.uri	https://openarchive.nure.ua/handle/document/29581
dc.publisher	ХНУРЭ
dc.subject	кремниевый фотопреобразователь
dc.subject	монокристаллический фотопреобразователей
dc.title	Прогнозные оценки надежности монокристаллических кремниевых фотопреобразователей
dspace.entity.type	Publication