(Науково-технічний журнал : Радіоелектронні і комп'ютерні системи (РЕКС), 2006) Хаханов, В. И.; Елисеев, В. В.
Предлагается подход к использованию IEEE стандартов тестирования для диагностирования сложных иерархических программно-технических комплексов, относящихся к критическим технологиям. Используются различные ad-hoc решения тестирования систем на кристаллах. Предложен алгоритм тестирования программно-технических комплексов на различных уровнях иерархии.