Please use this identifier to cite or link to this item: http://openarchive.nure.ua/handle/document/2261
Title: Метод анализа тестопригодности цифровых устройств для псевдослучайного тестирования в системах встроенного самотестирования
Authors: Кулак, Э. Н.
Каминская, М. А.
Константинова, Ю. К.
Keywords: цифровые комбинационные схемы
тестопригодность
самотестирование
Issue Date: 2009
Publisher: ХНУРЭ
Citation: Кулак, Э. Н. Метод анализа тестопригодности цифровых устройств для псевдослучайного тестирования в системах встроенного самотестирования / Э. Н. Кулак, М. А. Каминская, Ю. К. Константинова // АСУ и приборы автоматики : всеукр. межвед. науч.-техн. сб. – Х. : Изд-во ХНУРЭ, 2009. – Вып. 147. – С. 9–15.
Abstract: Предлагается метод анализа тестопригодности для сложных цифровых комбинационных схем. Приводится алгоритм модификации устройства и генерации взвешенного теста для улучшения показателей тестопригодности. Присутствуют результаты моделирования схемы в системе SIGESTEST. Предложенный метод сравнивается с двумя аналогичными методами анализа тестопригодности.
URI: http://openarchive.nure.ua/handle/document/2261
Appears in Collections:Кафедра автоматизації проектування обчислювальної техніки (АПОТ)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
ASU_147_2009 (9-15).pdf421.4 kBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.

Admin Tools