Метод анализа тестопригодности цифровых устройств для псевдослучайного тестирования в системах встроенного самотестирования

Кулак, Э. Н.; Каминская, М. А.; Константинова, Ю. К.

Публікація:
Метод анализа тестопригодности цифровых устройств для псевдослучайного тестирования в системах встроенного самотестирования

dc.contributor.author	Кулак, Э. Н.
dc.contributor.author	Каминская, М. А.
dc.contributor.author	Константинова, Ю. К.
dc.date.accessioned	2016-09-07T11:49:59Z
dc.date.available	2016-09-07T11:49:59Z
dc.date.issued	2009
dc.description.abstract	Предлагается метод анализа тестопригодности для сложных цифровых комбинационных схем. Приводится алгоритм модификации устройства и генерации взвешенного теста для улучшения показателей тестопригодности. Присутствуют результаты моделирования схемы в системе SIGESTEST. Предложенный метод сравнивается с двумя аналогичными методами анализа тестопригодности.	uk_UA
dc.identifier.citation	Кулак, Э. Н. Метод анализа тестопригодности цифровых устройств для псевдослучайного тестирования в системах встроенного самотестирования / Э. Н. Кулак, М. А. Каминская, Ю. К. Константинова // АСУ и приборы автоматики : всеукр. межвед. науч.-техн. сб. – Х. : Изд-во ХНУРЭ, 2009. – Вып. 147. – С. 9–15.	uk_UA
dc.identifier.uri	http://openarchive.nure.ua/handle/document/2261
dc.language.iso	ru	uk_UA
dc.publisher	ХНУРЭ	uk_UA
dc.subject	цифровые комбинационные схемы	uk_UA
dc.subject	тестопригодность	uk_UA
dc.subject	самотестирование	uk_UA
dc.title	Метод анализа тестопригодности цифровых устройств для псевдослучайного тестирования в системах встроенного самотестирования	uk_UA
dc.type	Article	uk_UA
dspace.entity.type	Publication