Статистика для Інтелектуальний аналіз зображень кристалів мікроелектронних компонентів для виявлення дефектів із використанням глибоких згорткових мереж і YOLO
Загальна кількість переглядів
| views | |
|---|---|
| Інтелектуальний аналіз зображень кристалів мікроелектронних компонентів для виявлення дефектів із використанням глибоких згорткових мереж і YOLO | 1 |
Загальна кількість переглядів на місяць
| views | |
|---|---|
| квітня 2025 | 0 |
| травня 2025 | 0 |
| червня 2025 | 0 |
| липня 2025 | 0 |
| серпня 2025 | 0 |
| вересня 2025 | 0 |
| жовтня 2025 | 1 |
Перегляди файлів
| views | |
|---|---|
| 2025_B_ShI_Sagalovich_TO.pdf | 4 |
| Dodatok_Sagalovich.pdf | 2 |
Топ переглядів за країнами
| views | |
|---|---|
| Туреччина | 1 |