Аналіз даних атомно-силової мікроскопії

Таласімова, К. М.

Публікація:
Аналіз даних атомно-силової мікроскопії

dc.contributor.author	Таласімова, К. М.
dc.date.accessioned	2023-11-16T15:24:08Z
dc.date.available	2023-11-16T15:24:08Z
dc.date.issued	2023
dc.description.abstract	Atomic force microscopy (AFM) is a powerful imaging tool that enables high-resolution imaging of surfaces and materials on the nanoscale. However, due to various factors such as instrument noise, sample drift, and mechanical vibrations, AFM images can be corrupted and difficult to interpret. In this thesis, we present novel image reconstruction methods that can enhance the quality and accuracy of AFM images. We first provide a comprehensive review of existing AFM image reconstruction techniques and their limitations. We then propose new algorithms that address some of these limitations, including the use of deep learning approaches and Bayesian inference. Overall, this thesis contributes to the development of advanced image reconstruction techniques in AFM and opens up new avenues for research in this field
dc.identifier.citation	Таласімова К. М. Аналіз даних атомно-силової мікроскопії / К. М. Таласімова // Радіоелектроніка та молодь у ХХІ столітті : матеріали 27-го Міжнар. молодіж. форуму, 10–12 травня 2023 р. – Харків : ХНУРЕ, 2023. – Т. 6, ч.1. – С. 51–52.
dc.identifier.uri	https://openarchive.nure.ua/handle/document/24769
dc.language.iso	uk
dc.publisher	ХНУРЕ
dc.title	Аналіз даних атомно-силової мікроскопії
dc.type	Conference proceedings
dspace.entity.type	Publication