Топологический метод анализа дефектов

Публікація:
Топологический метод анализа дефектов

dc.contributor.author	Хаханова, И. В.
dc.contributor.author	Чугуров, И. Н.
dc.contributor.author	Парфентий, А. Н.
dc.date.accessioned	2021-05-10T16:44:12Z
dc.date.available	2021-05-10T16:44:12Z
dc.date.issued	2003
dc.description.abstract	Предлагается быстродействующий метод моделирования неисправностей.	uk_UA
dc.identifier.citation	Хаханова И. В. Топологический метод анализа дефектов / И. В. Хаханова, И. Н. Чугуров, А. Н. Парфентий // Радиоэлектроника и информатика : науч.-техн. журн. – 2003. – Вып. 4. – С. 69–74.	uk_UA
dc.identifier.uri	https://openarchive.nure.ua/handle/document/15916
dc.language.iso	ru	uk_UA
dc.publisher	ХНУРЭ	uk_UA
dc.subject	моделирование неисправностей	uk_UA
dc.subject	быстродействующий метод моделирования	uk_UA
dc.title	Топологический метод анализа дефектов	uk_UA
dc.type	Article	uk_UA
dspace.entity.type	Publication