Публікація:
Топологический метод анализа дефектов

Проста сторінка документа
dc.contributor.authorХаханова, И. В.
dc.contributor.authorЧугуров, И. Н.
dc.contributor.authorПарфентий, А. Н.
dc.date.accessioned2021-05-10T16:44:12Z
dc.date.available2021-05-10T16:44:12Z
dc.date.issued2003
dc.description.abstractПредлагается быстродействующий метод моделирования неисправностей.uk_UA
dc.identifier.citationХаханова И. В. Топологический метод анализа дефектов / И. В. Хаханова, И. Н. Чугуров, А. Н. Парфентий // Радиоэлектроника и информатика : науч.-техн. журн. – 2003. – Вып. 4. – С. 69–74.uk_UA
dc.identifier.urihttps://openarchive.nure.ua/handle/document/15916
dc.language.isoruuk_UA
dc.publisherХНУРЭuk_UA
dc.subjectмоделирование неисправностейuk_UA
dc.subjectбыстродействующий метод моделированияuk_UA
dc.titleТопологический метод анализа дефектовuk_UA
dc.typeArticleuk_UA
dspace.entity.typePublication

Файли

Оригінальний пакунок

Зараз показано 1 - 1 з 1
Зображення мініатюри
Назва:
RI_2003_4_69-74.pdf
Розмір:
911.11 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити

Пакунок ліцензії

Зараз показано 1 - 1 з 1
Зображення мініатюри
Назва:
license.txt
Розмір:
9.42 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Колекції

Радіоелектроніка та інформатика