Публікація:
Измерение параметров диэлектриков с большими коэффициентами поглощения резонаторными методами в СВЧ диапазоне

dc.contributor.authorПанченко, А. Ю.
dc.date.accessioned2019-09-13T13:41:33Z
dc.date.available2019-09-13T13:41:33Z
dc.date.issued2001
dc.description.abstractРассматриваются возможности измерения параметров диэлектриков с большими коэффициентами поглощения при помощи резонаторных СВЧ-датчиков, использующих как основные, так и высшие модыuk_UA
dc.identifier.citationПанченко А. Ю. Измерение параметров диэлектриков с большими коэффициентами поглощения резонаторными методами в СВЧ диапазоне / А. Ю. Панченко // Радиоэлектроника и информатика : науч.-техн. журн. – Х. : ХНУРЭ, 2001. – Вып. 4. – С. 12–15.uk_UA
dc.identifier.urihttp://openarchive.nure.ua/handle/document/9670
dc.language.isoruuk_UA
dc.publisherХНУРЭuk_UA
dc.subjectпараметры диэлдектриковuk_UA
dc.subjectрезонаторные СВЧ-датчикиuk_UA
dc.titleИзмерение параметров диэлектриков с большими коэффициентами поглощения резонаторными методами в СВЧ диапазонеuk_UA
dc.typeArticleuk_UA
dspace.entity.typePublication

Файли

Оригінальний пакет
Зараз показано 1 - 1 з 1
Завантаження...
Зображення мініатюри
Назва:
Rad_Inf_2001-4_12-15.pdf
Розмір:
372.39 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Ліцензійний пакет
Зараз показано 1 - 1 з 1
Немає доступних мініатюр
Назва:
license.txt
Розмір:
9.42 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис: