Чувствительность СВЧ резонаторных измерительных преобразователей для микроволновой микроскопии

Гордиенко, Ю. Е.; Слипченко, Н. И.; Петров, В. В.

Публікація:
Чувствительность СВЧ резонаторных измерительных преобразователей для микроволновой микроскопии

dc.contributor.author	Гордиенко, Ю. Е.
dc.contributor.author	Слипченко, Н. И.
dc.contributor.author	Петров, В. В.
dc.date.accessioned	2021-07-06T11:40:26Z
dc.date.available	2021-07-06T11:40:26Z
dc.date.issued	2007
dc.description.abstract	Выполняется количественное исследование вклада в пространственную разрешающую способность различных компонент электромагнитного поля коаксиального резонаторного измерительного преобразователя при ближ- неполевой микроволновой микроскопии полупроводниковых материалов. Приводятся зависимости, позволяющие прогнозировать изменения чувствительности измерительного преобразователя и ее порога как по пространственному разрешению, так и по величине неоднородности параметров	uk_UA
dc.identifier.citation	Гордиенко Ю. Е. Чувствительность СВЧ резонаторных измерительных преобразователей для микроволновой микроскопии / Ю. Е. Гордиенко, Н. И. Слипченко, В. В. Петров // Радиоэлектроника и информатика : науч.-техн. журн. – 2007. – Вып. 3. – С. 19–23.	uk_UA
dc.identifier.uri	https://openarchive.nure.ua/handle/document/16925
dc.language.iso	ru	uk_UA
dc.publisher	ХНУРЭ	uk_UA
dc.subject	резонаторный измеритель	uk_UA
dc.subject	радиоэлектроника	uk_UA
dc.title	Чувствительность СВЧ резонаторных измерительных преобразователей для микроволновой микроскопии	uk_UA
dc.type	Article	uk_UA
dspace.entity.type	Publication