Публікація:
A Low-Cost Optimal Time SIC Pair Generator

dc.contributor.authorVoyiatzis, I.
dc.contributor.authorEfstathiou, C.
dc.contributor.authorAntonopoulou, H.
dc.date.accessioned2016-09-06T10:31:47Z
dc.date.available2016-09-06T10:31:47Z
dc.date.issued2010
dc.description.abstractThe application of Single Input Change (SIC) pairs of test patterns is very efficient for sequential, i.e. stuck-open and delay fault testing. In this paper a novel implementation for the application of SIC pairs is presented. The presented generator is optimal in time, in the sense that it generates the n-bit SIC pairs in time nu2n, i.e. equal to the theoretical minimum. Comparisons with the schemes that have been proposed in the open literature which generate SIC pairs in optimal time reveal that the proposed scheme requires less hardware overheaduk_UA
dc.identifier.citationVoyiatzis, I. A Low-Cost Optimal Time SIC Pair Generator / I. Voyiatzis, H. Antonopoulou, C. Efstathiou // Радиоэлектроника и информатика : науч.-техн. журн. – Х. : Изд-во ХНУРЭ, 2010. – Вып. 4. – С. 21-26.uk_UA
dc.identifier.urihttp://openarchive.nure.ua/handle/document/2144
dc.language.isoenuk_UA
dc.publisherХНУРЭuk_UA
dc.subjectstuck-open testinguk_UA
dc.subjectdelay fault testinguk_UA
dc.subjecttwo-pattern testinguk_UA
dc.subjectbuilt-in self testuk_UA
dc.titleA Low-Cost Optimal Time SIC Pair Generatoruk_UA
dc.typeArticleuk_UA
dspace.entity.typePublication

Файли

Оригінальний пакет
Зараз показано 1 - 1 з 1
Завантаження...
Зображення мініатюри
Назва:
RI_2010_4-021-026.pdf
Розмір:
177.7 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Ліцензійний пакет
Зараз показано 1 - 1 з 1
Немає доступних мініатюр
Назва:
license.txt
Розмір:
9.42 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис: