Использование интерференционных методов для контроля параметров критичных поверхностей коммутационных компонентов волоконно-оптических систем

Филипенко, А. И.

Публікація:
Использование интерференционных методов для контроля параметров критичных поверхностей коммутационных компонентов волоконно-оптических систем

dc.contributor.author	Филипенко, А. И.
dc.date.accessioned	2021-06-20T14:32:23Z
dc.date.available	2021-06-20T14:32:23Z
dc.date.issued	2004
dc.description.abstract	Описывается контроль состояния критичных поверхностей волоконно-оптических компонентов, который выполняется методом двухлучевой интерференции по схеме интерферометра Майкельсона.	uk_UA
dc.identifier.citation	Филипенко А. И. Использование интерференционных методов для контроля параметров критичных поверхностей коммутационных компонентов волоконно-оптических систем / А. И. Филипенко // Радиоэлектроника и информатика : науч.-техн. журн. – 2004. – Вып. 2. – С. 81–88.	uk_UA
dc.identifier.uri	https://openarchive.nure.ua/handle/document/16599
dc.language.iso	ru	uk_UA
dc.publisher	ХНУРЭ	uk_UA
dc.subject	интерферометр Майкельсона	uk_UA
dc.subject	контроль состояния критичных поверхностей	uk_UA
dc.title	Использование интерференционных методов для контроля параметров критичных поверхностей коммутационных компонентов волоконно-оптических систем	uk_UA
dc.type	Article	uk_UA
dspace.entity.type	Publication