Публікація:
Использование интерференционных методов для контроля параметров критичных поверхностей коммутационных компонентов волоконно-оптических систем

Проста сторінка документа
dc.contributor.authorФилипенко, А. И.
dc.date.accessioned2021-06-20T14:32:23Z
dc.date.available2021-06-20T14:32:23Z
dc.date.issued2004
dc.description.abstractОписывается контроль состояния критичных поверхностей волоконно-оптических компонентов, который выполняется методом двухлучевой интерференции по схеме интерферометра Майкельсона.uk_UA
dc.identifier.citationФилипенко А. И. Использование интерференционных методов для контроля параметров критичных поверхностей коммутационных компонентов волоконно-оптических систем / А. И. Филипенко // Радиоэлектроника и информатика : науч.-техн. журн. – 2004. – Вып. 2. – С. 81–88.uk_UA
dc.identifier.urihttps://openarchive.nure.ua/handle/document/16599
dc.language.isoruuk_UA
dc.publisherХНУРЭuk_UA
dc.subjectинтерферометр Майкельсонаuk_UA
dc.subjectконтроль состояния критичных поверхностейuk_UA
dc.titleИспользование интерференционных методов для контроля параметров критичных поверхностей коммутационных компонентов волоконно-оптических системuk_UA
dc.typeArticleuk_UA
dspace.entity.typePublication

Файли

Оригінальний пакунок

Зараз показано 1 - 1 з 1
Зображення мініатюри
Назва:
RI_2004_2_81-88.pdf
Розмір:
952.11 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити

Пакунок ліцензії

Зараз показано 1 - 1 з 1
Зображення мініатюри
Назва:
license.txt
Розмір:
9.42 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Колекції

Радіоелектроніка та інформатика