Publication:
Дослідження методів штучного інтелекту для аналізу МРТ-зображень при діагностуванні нейродегенеративних захворювань головного мозку

Loading...
Thumbnail Image

Date

2024

Journal Title

Journal ISSN

Volume Title

Publisher

Research Projects

Organizational Units

Journal Issue

Abstract

Об’єкт дослідження – процес виявлення нейродегенеративних захворювань головного мозку за допомогою аналізу МРТ-зображень. Предмет дослідження – методи штучного інтелекту, що застосовуються для аналізу МРТ-зображень з метою діагностики та моніторингу нейродегенеративних захворювань головного мозку. Мета роботи – дослідження та оцінка потенціалу застосування методів штучного інтелекту для аналізу МРТ-зображень у діагностиці нейродегенеративних захворювань головного мозку. Методи дослідження – аналіз та систематизація теоретичного матеріалу, проведення та аналіз експериментів. Нейродегенеративні захворювання, такі як хвороба Паркінсона, хвороба Альцгеймера та інші, представляють складність не тільки у їх діагностиці, але й у розумінні механізмів розвитку. Вони впливають на різні аспекти життя пацієнтів, від когнітивних функцій до фізичної активності, вимагаючи комплексного підходу до лікування. Використання штучного інтелекту для аналізу МРТ-зображень може значно підвищити точність і швидкість діагностики цих захворювань. Огляд сучасних досліджень, присвячених цій тематиці, показав, що методи штучного інтелекту, зокрема згорткові нейронні мережі (CNN), демонструють високу ефективність у цій галузі.

Description

Keywords

МРТ-зображення, глибинне навчання, комп’ютерний зір, магнітно-резонансна томографія, нейровізуалізація, нейродегенеративні захворювання

Citation

Любацький А. В. Дослідження методів штучного інтелекту для аналізу МРТ-зображень при діагностуванні нейродегенеративних захворювань головного мозку : пояснювальна записка до кваліфікаційної роботи здобувача вищої освіти на другому (магістерському) рівні, спеціальність 122 Комп’ютерні науки / А. В. Любацький ; М-во освіти і науки України, Харків. нац. ун-т радіоелектроніки. – Харків, 2024. – 99 с.

DOI