Публікація:
Контроль фотопроводимости полупроводников при помощи СВЧ техники

Спрощена сторінка документа
dc.contributor.authorБородин, Б. Г.
dc.contributor.authorВербицкий, В. Г.
dc.date.accessioned2016-08-02T09:24:35Z
dc.date.available2016-08-02T09:24:35Z
dc.date.issued2011
dc.description.abstractThe questions of microwave-biased research photoconductivity in semiconductors are considered in the report. It is showed that use of the quasi-statistic resonators for measuring of photoconductivity is more preferable. Are presented. results of theoretical and experimental researches. СВЧ смещение для исследования фотопроводимости (ФП) полупроводников ис-пользуется весьма широко и эффективно. Преимущества СВЧ смещения по сравнению с постоянным напряжением, заключающиеся, прежде всего, в отсутствии необходимости создавать омические контакты, обеспечили дальнейшее развитие этого направления. Убедительно показано, что применение СВЧ смещения при исследовании полупроводников позволяет получать более объективную информацию, а зачастую - качественно новую информацию.uk_UA
dc.identifier.citationБородин, Б. Г. Контроль фотопроводимости полупроводников при помощи СВЧ техники / Б. Г. Бородин, Вербицкий В. Г. // Функциональная база наноэлектроники : сб. науч. тр. IV Междунар. науч. конф., 30 сент. – 3 окт. 2011 г. – Х. ; Кацивели : ХНУРЭ, 2011. – С. 251–252.uk_UA
dc.identifier.urihttp://openarchive.nure.ua/handle/document/1717
dc.language.isoruuk_UA
dc.publisherХНУРЭuk_UA
dc.subjectСВЧ смещениеuk_UA
dc.subjectомический контактuk_UA
dc.subjectрезонаторыuk_UA
dc.subjectфотопроводимостьuk_UA
dc.titleКонтроль фотопроводимости полупроводников при помощи СВЧ техникиuk_UA
dc.typeConference proceedingsuk_UA
dspace.entity.typePublication

Файли

Оригінальний пакет
Зараз показано 1 - 1 з 1
Немає доступних мініатюр
Назва:
1515.doc
Розмір:
22 KB
Формат:
Microsoft Word
Завантажити
Ліцензійний пакет
Зараз показано 1 - 1 з 1
Немає доступних мініатюр
Назва:
license.txt
Розмір:
9.42 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Колекції

Международная научная конференция "Функциональная база наноэлектроники" Харьков-Кацивели 2011-2012