Метод анализа излучения оптических волокон

Abstract

Предложен метод анализа излучения оптических волокон в ближней зоне. Он позволяет измерять геометрические параметры компонентов волоконно- оптических систем с погрешностью не более 0,1 мкм. Метод обработки данных базируется на аппроксимации амплитуды ближнего поля суперпозицией ортогональных функций Лагерра. Дополнительным преимуществом является возможность получения геометрических параметров волоконно- оптических компонентов через коэффициенты разложения функции излучения.