Публікація:
Роль зазора между зондом и объектом в сканирующей микроволновой микроскопии

Спрощена сторінка документа
dc.contributor.authorГордиенко, Ю. Е.
dc.contributor.authorЛаркин, С. Ю.
dc.contributor.authorЧхотуа, М. С. Е.
dc.date.accessioned2016-08-02T11:48:20Z
dc.date.available2016-08-02T11:48:20Z
dc.date.issued2012
dc.description.sponsorshipInfluence of sample-tip distance on the fundamental signals in scanning microwave microscopy is mainly disproportional; it is shown in experimental researches. Also it depends on sample electro-physical parameters, and aperture geometry. That’s why the most of scanning microwave microscopy analysis of different objects is mostly illustrative and requires additional image reconstruction. For reconstruction algorithm formation the establishing of physics of near-field interactions with sample-tip distance is necessary.uk_UA
dc.identifier.citationГордиенко, Ю. Е. Роль зазора между зондом и объектом в сканирующей микроволновой микроскопии / Ю. Е. Гордиенко, С. Ю. Ларкин, М. С. Е. Чхотуа М.С.Е. // Функциональная база наноэлектроники : сб. науч. тр. V Междунар. науч. конф., 30 сент. – 5 окт. 2012 г. – Х. ; Кацивели : ХНУРЭ, 2012. – С. 201–204.uk_UA
dc.identifier.urihttp://openarchive.nure.ua/handle/document/1750
dc.language.isoruuk_UA
dc.publisherХНУРЭuk_UA
dc.subjectнаноэлектроникаuk_UA
dc.subjectсканирующая микроволновая микроскопияuk_UA
dc.subjectрезонаторные зондыuk_UA
dc.titleРоль зазора между зондом и объектом в сканирующей микроволновой микроскопииuk_UA
dc.typeConference proceedingsuk_UA
dspace.entity.typePublication

Файли

Оригінальний пакет
Зараз показано 1 - 1 з 1
Немає доступних мініатюр
Назва:
3939.doc
Розмір:
517.5 KB
Формат:
Microsoft Word
Завантажити
Ліцензійний пакет
Зараз показано 1 - 1 з 1
Немає доступних мініатюр
Назва:
license.txt
Розмір:
9.42 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Колекції

Международная научная конференция "Функциональная база наноэлектроники" Харьков-Кацивели 2011-2012