Публікація:
Metastability Testing at FPGA Circuit Design using Propagation Time Characterization

dc.contributor.authorRogina, B. M.
dc.contributor.authorŠkoda, P.
dc.contributor.authorSkala, K.
dc.contributor.authorMichieli, I.
dc.date.accessioned2016-09-02T10:57:46Z
dc.date.available2016-09-02T10:57:46Z
dc.date.issued2010
dc.description.abstractThis paper describes the measurement method and experimental technique with advanced instrumentation setup for analysing the metastability behavior and performance measurement of flip-flops used in programmable logic devices. In order to demonstrate this testing approach, the results for metastable characteristics parameters of one FPGA digital circuit fabricated commercially in 90 nm CMOS process are presented. The same test methods can also be used for evaluation of timing reliability in digital circuits as well.uk_UA
dc.identifier.citationMetastability Testing at FPGA Circuit Design using Propagation Time Characterization / B. M. Rogina and all // Радиоэлектроника и информатика : науч.-техн. журн. – Х. : Изд-во ХНУРЭ, 2010. – Вып. 4. – С. 4-8.uk_UA
dc.identifier.urihttp://openarchive.nure.ua/handle/document/2002
dc.language.isoenuk_UA
dc.publisherХНУРЭuk_UA
dc.subjectpropagation timeuk_UA
dc.subjecttestinguk_UA
dc.subjectmetastabilityuk_UA
dc.subjectterms—FPGAuk_UA
dc.titleMetastability Testing at FPGA Circuit Design using Propagation Time Characterizationuk_UA
dc.typeArticleuk_UA
dspace.entity.typePublication

Файли

Оригінальний пакет
Зараз показано 1 - 1 з 1
Завантаження...
Зображення мініатюри
Назва:
RI_2010_4-004-008.pdf
Розмір:
367.06 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Ліцензійний пакет
Зараз показано 1 - 1 з 1
Немає доступних мініатюр
Назва:
license.txt
Розмір:
9.42 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис: