Контроль пористости тонких неферромагнитных пленок вихретоковым методом

Хорошайло, Ю. Е.; Хорошайло, Н. Е.; Стоян, О. И.

Публікація:
Контроль пористости тонких неферромагнитных пленок вихретоковым методом

dc.contributor.author	Хорошайло, Ю. Е.
dc.contributor.author	Хорошайло, Н. Е.
dc.contributor.author	Стоян, О. И.
dc.date.accessioned	2022-02-19T00:18:37Z
dc.date.available	2022-02-19T00:18:37Z
dc.date.issued	1991
dc.description.abstract	Развитие электронной микроскопии позволило получить наглядное представление о процессе образования тонких пленок на начальной стадии конденсации. Установлено, что пленки малой толщины представляют собой островковый конденсат, состоящий из отдельных частиц. Предлагается разработанный метод для контроля несплошности объекта контроля (ОК), который заключается в том, что на высоких частотах резонансный . вихретоковый измерительный преобразователь (ВИП), имеющий катушки цилиндрической формы отлично от идеальной модели реагирует на тонкие неферромагнитные пленки, Имеющие пористую островковую структуру.	uk_UA
dc.identifier.citation	Хорошайло Ю. Е. Контроль пористости тонких неферромагнитных пленок вихретоковым методом / Ю. Е. Хорошайло, Н. Е. Хорошайло, О. И. Стоян // Радиотехника : респ. межведомств. науч.-техн. сб. – 1991. – Вып. 94. – С. 126–130.	uk_UA
dc.identifier.uri	https://openarchive.nure.ua/handle/document/19823
dc.language.iso	ru	uk_UA
dc.publisher	Основа	uk_UA
dc.subject	радиотехника	uk_UA
dc.subject	электронная микроскопия	uk_UA
dc.title	Контроль пористости тонких неферромагнитных пленок вихретоковым методом	uk_UA
dc.type	Article	uk_UA
dspace.entity.type	Publication