Публікація:
Генерация тестов для проверки неисправностей цифровых систем

Проста сторінка документа
dc.contributor.authorХаханов, В. И.
dc.contributor.authorМасуд М. Д. Мехди
dc.date.accessioned2019-11-15T11:42:52Z
dc.date.available2019-11-15T11:42:52Z
dc.date.issued2000
dc.description.abstractПредлагается метод генерации тестов для константных неисправностей, использующий кубические покрытия списков неисправностей для построения одномерных путей активацииuk_UA
dc.identifier.citationХаханов В. И. Генерация тестов для проверки неисправностей цифровых систем / В. И. Хаханов, Масуд М. Д. Мехди // Радиоэлектроника и информатика : науч.-техн. журн. – Х. : ХТУРЭ, 2000. – Вып. 4. – С. 78-81.uk_UA
dc.identifier.urihttp://openarchive.nure.ua/handle/document/10223
dc.language.isoruuk_UA
dc.publisherХТУРЭuk_UA
dc.subjectтесты для проверки неисправностейuk_UA
dc.subjectнеисправности цифровых системuk_UA
dc.subjectкристаллы сверхбольшой степени интеграцииuk_UA
dc.titleГенерация тестов для проверки неисправностей цифровых системuk_UA
dc.typeArticleuk_UA
dspace.entity.typePublication

Файли

Оригінальний пакунок

Зараз показано 1 - 1 з 1
Зображення мініатюри
Назва:
RI_2000_4_78-91.pdf
Розмір:
204.6 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити

Пакунок ліцензії

Зараз показано 1 - 1 з 1
Зображення мініатюри
Назва:
license.txt
Розмір:
9.42 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Колекції

Радіоелектроніка та інформатика