Генерация тестов для проверки неисправностей цифровых систем

Публікація:
Генерация тестов для проверки неисправностей цифровых систем

dc.contributor.author	Хаханов, В. И.
dc.contributor.author	Масуд М. Д. Мехди
dc.date.accessioned	2019-11-15T11:42:52Z
dc.date.available	2019-11-15T11:42:52Z
dc.date.issued	2000
dc.description.abstract	Предлагается метод генерации тестов для константных неисправностей, использующий кубические покрытия списков неисправностей для построения одномерных путей активации	uk_UA
dc.identifier.citation	Хаханов В. И. Генерация тестов для проверки неисправностей цифровых систем / В. И. Хаханов, Масуд М. Д. Мехди // Радиоэлектроника и информатика : науч.-техн. журн. – Х. : ХТУРЭ, 2000. – Вып. 4. – С. 78-81.	uk_UA
dc.identifier.uri	http://openarchive.nure.ua/handle/document/10223
dc.language.iso	ru	uk_UA
dc.publisher	ХТУРЭ	uk_UA
dc.subject	тесты для проверки неисправностей	uk_UA
dc.subject	неисправности цифровых систем	uk_UA
dc.subject	кристаллы сверхбольшой степени интеграции	uk_UA
dc.title	Генерация тестов для проверки неисправностей цифровых систем	uk_UA
dc.type	Article	uk_UA
dspace.entity.type	Publication