Публікація:
Экспериментальное исследование дифракционных свойств тонких проводящих пленок в волноводе

Проста сторінка документа
dc.contributor.authorАрсеничев, С. П.
dc.contributor.authorБендеберя, Г. Н.
dc.contributor.authorГригорьев, Е. В.
dc.contributor.authorЗуев, С. А.
dc.contributor.authorСлипченко, Н. И.
dc.contributor.authorСтаростенко, В. В.
dc.contributor.authorТаран, Е. П.
dc.date.accessioned2016-06-16T10:20:50Z
dc.date.available2016-06-16T10:20:50Z
dc.date.issued2013
dc.description.abstractШирокие возможности изучения структуры, свойств и характеристик тонких пленок появились сравнительно недавно – с появлением микроскопии, обеспечивающей нанометровое разрешение, с использованием современной измерительной аппаратуры. Поглощение электромагнитных волн в тонких пленках объясняется их рассеянием в кристаллитах структуры с преобразованием в акустические волны [1]. При этом под тонкими понимаются пленки, толщина которых много меньше скин-слоя и соизмерима с длиной свободного пробега электронов (пленки толщиной менее 50 нм)uk_UA
dc.identifier.citationЭкспериментальное исследование дифракционных свойств тонких проводящих пленок в волноводе / С. П. Арсеничев и др. // Радиотехника : Всеукр. межвед. науч.-техн. сб. – Харьков, 2013. – Вып. 175. – С. 82 – 88.uk_UA
dc.identifier.urihttp://openarchive.nure.ua/handle/document/980
dc.language.isoruuk_UA
dc.publisherХНУРЭuk_UA
dc.subjectтонкие пленкиuk_UA
dc.subjectмикроскопияuk_UA
dc.subjectнанометровое разрешениеuk_UA
dc.titleЭкспериментальное исследование дифракционных свойств тонких проводящих пленок в волноводеuk_UA
dc.typeArticleuk_UA
dspace.entity.typePublication

Файли

Оригінальний пакунок

Зараз показано 1 - 1 з 1
Зображення мініатюри
Назва:
стр.082-088.doc
Розмір:
396.5 KB
Формат:
Microsoft Word
Завантажити

Пакунок ліцензії

Зараз показано 1 - 1 з 1
Зображення мініатюри
Назва:
license.txt
Розмір:
9.42 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Колекції

Радіотехніка