Количественные оценки тестопригодности цифровых устройств на схемотехническом уровне

Публікація:
Количественные оценки тестопригодности цифровых устройств на схемотехническом уровне

dc.contributor.author	Кривуля, Г. Ф.
dc.contributor.author	Рами Аль-Матернех
dc.contributor.author	Шкиль, А. С.
dc.date.accessioned	2018-11-21T12:17:17Z
dc.date.available	2018-11-21T12:17:17Z
dc.date.issued	1998
dc.description.abstract	Рассматривается выбор и вычисление оценок тестопригодности для цифрового устройства, которые характеризуют затраты на построение диагностического обеспечения.	uk_UA
dc.identifier.citation	Кривуля Г. Ф. Количественные оценки тестопригодности цифровых устройств на схемотехническом уровне / Г. Ф. Кривуля, Рами Аль-Матернех, А. С. Шкиль // Радиоэлектроника и информатика : науч.-техн. журн. – Х. : ХНУРЭ, 1998. – Вып. 4. – С. 75-79.	uk_UA
dc.identifier.uri	http://openarchive.nure.ua/handle/document/7327
dc.language.iso	ru	uk_UA
dc.publisher	ХНУРЭ	uk_UA
dc.subject	тестопригодность	uk_UA
dc.subject	цифровое устройство	uk_UA
dc.title	Количественные оценки тестопригодности цифровых устройств на схемотехническом уровне	uk_UA
dc.type	Article	uk_UA
dspace.entity.type	Publication