Публікація:
Количественные оценки тестопригодности цифровых устройств на схемотехническом уровне

Проста сторінка документа
dc.contributor.authorКривуля, Г. Ф.
dc.contributor.authorРами Аль-Матернех
dc.contributor.authorШкиль, А. С.
dc.date.accessioned2018-11-21T12:17:17Z
dc.date.available2018-11-21T12:17:17Z
dc.date.issued1998
dc.description.abstractРассматривается выбор и вычисление оценок тестопригодности для цифрового устройства, которые характеризуют затраты на построение диагностического обеспечения.uk_UA
dc.identifier.citationКривуля Г. Ф. Количественные оценки тестопригодности цифровых устройств на схемотехническом уровне / Г. Ф. Кривуля, Рами Аль-Матернех, А. С. Шкиль // Радиоэлектроника и информатика : науч.-техн. журн. – Х. : ХНУРЭ, 1998. – Вып. 4. – С. 75-79.uk_UA
dc.identifier.urihttp://openarchive.nure.ua/handle/document/7327
dc.language.isoruuk_UA
dc.publisherХНУРЭuk_UA
dc.subjectтестопригодностьuk_UA
dc.subjectцифровое устройствоuk_UA
dc.titleКоличественные оценки тестопригодности цифровых устройств на схемотехническом уровнеuk_UA
dc.typeArticleuk_UA
dspace.entity.typePublication

Файли

Оригінальний пакунок

Зараз показано 1 - 1 з 1
Зображення мініатюри
Назва:
Krivulya_75-79.pdf
Розмір:
278.56 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити

Пакунок ліцензії

Зараз показано 1 - 1 з 1
Зображення мініатюри
Назва:
license.txt
Розмір:
9.42 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Колекції

Радіоелектроніка та інформатика