Спосіб ідентифікації закладних пристроїв при нелінійній локації

Abstract

Спосіб ідентифікації закладних пристроїв при нелінійній локації, який включає опромінення контрольованого об'єму НВЧ гармонійним сигналом нелінійного локатора, приймання сигналу-відгуку та спектральний аналіз сигналу-відгуку з вимірюванням амплітудного розподілу компонент спектра, що свідчить про наявність нелінійного пристрою в контрольованому об'ємі, який відрізняється тим, що вимірюванню піддають п'ять складових, кратних частоті опромінення, за результатами вимірювання гармонійних складових розраховуються коефіцієнти розкладання вольт-амперної характеристики та параметри нелінійності напівпровідникового пристрою, розраховані параметри нелінійності порівнюють з параметрами нелінійності напівпровідникових приладів відомих закладних пристроїв, що містяться у блоці пам'яті нелінійного локатора.