Характериограф с электронной сеткой для полупроводниковых приборов

Abstract

Многочисленные схемы характериографов для полупроводниковых приборов описаны в литературе и имеют низкую точность измерений, вследствие того, что они не позволяют осуществить калибровку всего экрана электронно-лучевой трубки. Применение специальных устройств для калибровки экрана при помощи электронной сетки и совмещение последней с характеристиками испытываемых полупроводниковых приборов (что существенно повышает точность измерений) приводит к значительному усложнению схемы всего прибора. Поэтому характериографы до сих пор не получили широкого практического применения.