СВЧ-фотомодуляционный метод исследования рекомбинационных процессов в полупроводниках

Гордиенко, Ю. Е.; Бородин, Б. Г.; Смуглий, В. И.

Публікація:
СВЧ-фотомодуляционный метод исследования рекомбинационных процессов в полупроводниках

dc.contributor.author	Гордиенко, Ю. Е.
dc.contributor.author	Бородин, Б. Г.
dc.contributor.author	Смуглий, В. И.
dc.date.accessioned	2021-11-28T20:42:59Z
dc.date.available	2021-11-28T20:42:59Z
dc.date.issued	1997
dc.description.abstract	Безэлектродная диагностика полупроводников, основанная на применении техники СВЧ, характеризуется рядом достоинств, включая применимость без специализации для любых полупроводниковых материалов, широкий диапазон допустимых значений удельного сопротивления, отсутствие жестких требований к геометрии образцов и др.	uk_UA
dc.identifier.citation	Гордиенко Ю. Е. СВЧ-фотомодуляционный метод исследования рекомбинационных процессов в полупроводниках / Ю. Е. Гордиенко, Б. Г. Бородин, В. И. Смуглий // Радиотехника : всеукр. межвед. науч.–техн. сб. – 1997. – Вып. 102. – С. 73–84.	uk_UA
dc.identifier.uri	https://openarchive.nure.ua/handle/document/18464
dc.language.iso	ru	uk_UA
dc.publisher	ХТУРЭ	uk_UA
dc.subject	радиотехника	uk_UA
dc.subject	Безэлектродная диагностика полупроводников	uk_UA
dc.title	СВЧ-фотомодуляционный метод исследования рекомбинационных процессов в полупроводниках	uk_UA
dc.type	Article	uk_UA
dspace.entity.type	Publication