Дедуктивный метод кубического моделирования неисправностей цифровых устройств

Хаханов, В. И.; Шкиль, А. С.; Ханько, В. В.

Публікація:
Дедуктивный метод кубического моделирования неисправностей цифровых устройств

dc.contributor.author	Хаханов, В. И.
dc.contributor.author	Шкиль, А. С.
dc.contributor.author	Ханько, В. В.
dc.date.accessioned	2018-12-20T15:02:43Z
dc.date.available	2018-12-20T15:02:43Z
dc.date.issued	1999
dc.description.abstract	Предлагается метод дедуктивного моделирования константных логических неисправностей для цифровых устройств (ЦУ), где функциональные элементы представлены в виде кубических покрытий. Впервые получено аналитическое выражение формального анализа покрытия на тест-векторе для транспортирования входных списков неисправностей на выход примитива. Метод инвариантен по отношению к формам представления цифровых схем, задающим способы описания вентилей, функциональных элементов, алгоритмов. Известные дедуктивные формулы анализа вентильных схем являются частным случаем полученного выражения.	uk_UA
dc.identifier.citation	Хаханов В. И. Дедуктивный метод кубического моделирования неисправностей цифровых устройств / Хаханов В. И., Шкиль А. С., Ханько В. В. // Радиоэлектроника и информатика : науч.-техн. журн. – Х. : ХГТУРЭ, 1999. – Вып. 1. – С. 77–84.	uk_UA
dc.identifier.uri	http://openarchive.nure.ua/handle/document/7596
dc.language.iso	ru	uk_UA
dc.publisher	ХГТУРЭ	uk_UA
dc.subject	метод дедуктивного моделирования	uk_UA
dc.subject	тест-вектор	uk_UA
dc.subject	входной список неисправностей	uk_UA
dc.title	Дедуктивный метод кубического моделирования неисправностей цифровых устройств	uk_UA
dc.type	Article	uk_UA
dc.type	Book	uk_UA
dspace.entity.type	Publication