Публікація:
Методы моделирования тепловых повреждений полупроводниковых приборов

Спрощена сторінка документа
dc.contributor.authorЧумаков, В. И.
dc.date.accessioned2019-01-09T14:11:43Z
dc.date.available2019-01-09T14:11:43Z
dc.date.issued1999
dc.description.abstractПриводится обзор моделей анализа тепловых деградаций полупроводниковых приборов при действии импульсных электрических нагрузок. Развивается линейная тепловая модель импульсных поврежденийuk_UA
dc.identifier.citationЧумаков В. И. Методы моделирования тепловых повреждений полупроводниковых приборов / В. И. Чумаков // Радиоэлектроника и информатика : науч.-техн. журн. – Х. : ХГТУРЭ, 1999. – Вып. 2. – С. 31–37.uk_UA
dc.identifier.urihttp://openarchive.nure.ua/handle/document/7645
dc.language.isoruuk_UA
dc.publisherХГТУРЭuk_UA
dc.subjectмодель импульсных поврежденийuk_UA
dc.subjectтепловые поврежденияuk_UA
dc.titleМетоды моделирования тепловых повреждений полупроводниковых приборовuk_UA
dc.typeArticleuk_UA
dspace.entity.typePublication

Файли

Оригінальний пакет
Зараз показано 1 - 1 з 1
Зображення мініатюри
Назва:
metody-modelirovaniya-31-37.pdf
Розмір:
369.12 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити
Ліцензійний пакет
Зараз показано 1 - 1 з 1
Немає доступних мініатюр
Назва:
license.txt
Розмір:
9.42 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис:
Завантажити

Колекції

Радиоэлектроника и информатика