Проектирование оптимизированных алгоритмов диагностирования устройств вычислительной техники

Abstract

Реализация тестовых методов диагностирования средств цифровой вычислительной техники [1,2] предполагает наличие сервисного оборудования, включающего интерфейс связи с объектом диагностирования, средства подачи тестов и снятия реакции изделия, логические стимуляторы и анализаторы для поиска дефектов внутри цифрового устройства (ЦУ). Функциональное диагностирование не требует дорогостоящего сервисного диагностического оборудования, но его разрешающая способность – глубина поиска дефектов – значительно ниже, чем у тестовых методов.