Международная научная конференция "Функциональная база наноэлектроники" Харьков-Кацивели 2011-2012

Постійний URI для цієї колекції

https://openarchive.nure.ua/handle/document/26

Перегляд

Перегляд Международная научная конференция "Функциональная база наноэлектроники" Харьков-Кацивели 2011-2012 за темою "атомно-силовой микроскоп"

Зараз показано 1 - 1 з 1
  • Немає доступних мініатюр
    Публікація
    Алгоритм трехмерной реконструкции электрофизических свойств в микроволновой сканирующей микроскопии
    (ХНУРЭ, 2011) Гордиенко, Ю. Е.; Ларкин, С. Ю.; Мельник, С. И.; Слипченко, Н. И.
    The microwave tomography method is proposed, based on the separation of the reconstruction algorithm of scan results into three independent phase and layered reconstruction required distributions. Generalisation of 3-d reconstruction algorithm in case. Методы сканирующей зондовой микроскопии уже давно стали одним из основных средств исследований микро и наноструктур в различных областях науки и техники. Одним из таких методов является микроволновая сканирующая микроскопия (МСМ). К настоящему времени разработаны как различные микроволновые приставки к атомно-силовому микроскопу, так и серийный микроволновой микроскоп. В настоящей работе мы обобщим полученный нами ранее алоритм реконструкции распределения электрофизических свойств в методе МСМ на трехмерную задачу.