Публікація: Экспериментальное исследование дифракционных свойств тонких проводящих пленок в волноводе
Немає доступних мініатюр
Дата
2013
Назва журналу
ISSN журналу
Назва тома
Видавництво
ХНУРЭ
Анотація
Широкие возможности изучения структуры, свойств и характеристик тонких пленок появились сравнительно недавно – с появлением микроскопии, обеспечивающей нанометровое разрешение, с использованием современной измерительной аппаратуры. Поглощение электромагнитных волн в тонких пленках объясняется их рассеянием в кристаллитах структуры с преобразованием в акустические волны [1]. При этом под тонкими понимаются пленки, толщина которых много меньше скин-слоя и соизмерима с длиной свободного пробега электронов (пленки толщиной менее 50 нм)
Опис
Ключові слова
тонкие пленки, микроскопия, нанометровое разрешение
Бібліографічний опис
Экспериментальное исследование дифракционных свойств тонких проводящих пленок в волноводе / С. П. Арсеничев и др. // Радиотехника : Всеукр. межвед. науч.-техн. сб. – Харьков, 2013. – Вып. 175. – С. 82 – 88.