Please use this identifier to cite or link to this item: http://openarchive.nure.ua/handle/document/980
Title: Экспериментальное исследование дифракционных свойств тонких проводящих пленок в волноводе
Authors: Арсеничев, С. П.
Бендеберя, Г. Н.
Григорьев, Е. В.
Зуев, С. А.
Слипченко, Н. И.
Старостенко, В. В.
Таран, Е. П.
Keywords: тонкие пленки
микроскопия
нанометровое разрешение
Issue Date: 2013
Publisher: ХНУРЭ
Citation: Экспериментальное исследование дифракционных свойств тонких проводящих пленок в волноводе / С. П. Арсеничев и др. // Радиотехника : Всеукр. межвед. науч.-техн. сб. – Харьков, 2013. – Вып. 175. – С. 82 – 88.
Abstract: Широкие возможности изучения структуры, свойств и характеристик тонких пленок появились сравнительно недавно – с появлением микроскопии, обеспечивающей нанометровое разрешение, с использованием современной измерительной аппаратуры. Поглощение электромагнитных волн в тонких пленках объясняется их рассеянием в кристаллитах структуры с преобразованием в акустические волны [1]. При этом под тонкими понимаются пленки, толщина которых много меньше скин-слоя и соизмерима с длиной свободного пробега электронов (пленки толщиной менее 50 нм)
URI: http://openarchive.nure.ua/handle/document/980
Appears in Collections:Радиотехника

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
стр.082-088.doc396.5 kBMicrosoft WordView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.

Admin Tools