Публікація: Экспериментальное исследование дифракционных свойств тонких проводящих пленок в волноводе
| dc.contributor.author | Арсеничев, С. П. | |
| dc.contributor.author | Бендеберя, Г. Н. | |
| dc.contributor.author | Григорьев, Е. В. | |
| dc.contributor.author | Зуев, С. А. | |
| dc.contributor.author | Слипченко, Н. И. | |
| dc.contributor.author | Старостенко, В. В. | |
| dc.contributor.author | Таран, Е. П. | |
| dc.date.accessioned | 2016-06-16T10:20:50Z | |
| dc.date.available | 2016-06-16T10:20:50Z | |
| dc.date.issued | 2013 | |
| dc.description.abstract | Широкие возможности изучения структуры, свойств и характеристик тонких пленок появились сравнительно недавно – с появлением микроскопии, обеспечивающей нанометровое разрешение, с использованием современной измерительной аппаратуры. Поглощение электромагнитных волн в тонких пленках объясняется их рассеянием в кристаллитах структуры с преобразованием в акустические волны [1]. При этом под тонкими понимаются пленки, толщина которых много меньше скин-слоя и соизмерима с длиной свободного пробега электронов (пленки толщиной менее 50 нм) | uk_UA |
| dc.identifier.citation | Экспериментальное исследование дифракционных свойств тонких проводящих пленок в волноводе / С. П. Арсеничев и др. // Радиотехника : Всеукр. межвед. науч.-техн. сб. – Харьков, 2013. – Вып. 175. – С. 82 – 88. | uk_UA |
| dc.identifier.uri | http://openarchive.nure.ua/handle/document/980 | |
| dc.language.iso | ru | uk_UA |
| dc.publisher | ХНУРЭ | uk_UA |
| dc.subject | тонкие пленки | uk_UA |
| dc.subject | микроскопия | uk_UA |
| dc.subject | нанометровое разрешение | uk_UA |
| dc.title | Экспериментальное исследование дифракционных свойств тонких проводящих пленок в волноводе | uk_UA |
| dc.type | Article | uk_UA |
| dspace.entity.type | Publication |
Файли
Оригінальний пакет
1 - 1 з 1
Ліцензійний пакет
1 - 1 з 1
Немає доступних мініатюр
- Назва:
- license.txt
- Розмір:
- 9.42 KB
- Формат:
- Item-specific license agreed upon to submission
- Опис: