Публікація: Технологии диагностирования и восстановления SYSTEM-IN-PACKAGE
Завантаження...
Дата
2009
Автори
Назва журналу
ISSN журналу
Назва тома
Видавництво
ХНУРЭ
Анотація
Рассматривается проблема адаптации технологий тестирования цифровых систем на кристаллах (System on Chip – SoC) для нового конструктивного поколения цифровых систем – System-in-Package (SiP), позволяющего эффективно и компактно имплементировать в кристаллы сверхсложные специализированные вычислительные и радиочастотные устройства для рынка электронных технологий. Вместе с тем пакет кристаллов формирует спектр новых задач сервисного обслуживания SiP-функциональностей в реальном масшта- бе времени, которое существенно отличается от процессов встроенного диагностирования SoC. В связи с этим предлагается алгебрологический метод диагностирования и вос- становления работоспособности функциональных логических блоков FPGA, основанный на использовании таблиц неисправностей и их анализе в реальном масштабе времени.
Опис
Ключові слова
цифровые системы, System-in-Package, электронные технологии
Бібліографічний опис
Литвинова, Е. И. Технологии диагностирования и восстановления SYSTEM-IN-PACKAGE / Е. И. Литвинова // АСУ и приборы автоматики : всеукр. межвед. науч.-техн. сб. – Х. : Изд-во ХНУРЭ, 2009. – Вып. 146. – С. 4–21.