Технологии диагностирования и восстановления SYSTEM-IN-PACKAGE

Литвинова, Е. И.

Публікація:
Технологии диагностирования и восстановления SYSTEM-IN-PACKAGE

dc.contributor.author	Литвинова, Е. И.
dc.date.accessioned	2016-09-13T13:24:36Z
dc.date.available	2016-09-13T13:24:36Z
dc.date.issued	2009
dc.description.abstract	Рассматривается проблема адаптации технологий тестирования цифровых систем на кристаллах (System on Chip – SoC) для нового конструктивного поколения цифровых систем – System-in-Package (SiP), позволяющего эффективно и компактно имплементировать в кристаллы сверхсложные специализированные вычислительные и радиочастотные устройства для рынка электронных технологий. Вместе с тем пакет кристаллов формирует спектр новых задач сервисного обслуживания SiP-функциональностей в реальном масшта- бе времени, которое существенно отличается от процессов встроенного диагностирования SoC. В связи с этим предлагается алгебрологический метод диагностирования и вос- становления работоспособности функциональных логических блоков FPGA, основанный на использовании таблиц неисправностей и их анализе в реальном масштабе времени.	uk_UA
dc.identifier.citation	Литвинова, Е. И. Технологии диагностирования и восстановления SYSTEM-IN-PACKAGE / Е. И. Литвинова // АСУ и приборы автоматики : всеукр. межвед. науч.-техн. сб. – Х. : Изд-во ХНУРЭ, 2009. – Вып. 146. – С. 4–21.	uk_UA
dc.identifier.uri	http://openarchive.nure.ua/handle/document/2491
dc.language.iso	ru	uk_UA
dc.publisher	ХНУРЭ	uk_UA
dc.subject	цифровые системы	uk_UA
dc.subject	System-in-Package	uk_UA
dc.subject	электронные технологии	uk_UA
dc.title	Технологии диагностирования и восстановления SYSTEM-IN-PACKAGE	uk_UA
dc.type	Article	uk_UA
dspace.entity.type	Publication