Методы анализа и диагностирования цифровых устройств (аналитический обзор)

Abstract

Рассматриваются основные направления технологий проектирования, валидации и обеспечения качества (quality assurance) систем на кристаллах и в пакетах кристаллов. Цель – аналитический обзор квантовых методов вычислений, технологий тестирования и диагностирования цифровых систем на кристаллах при их проектировании и верификации, ориентированный на повышение быстродействия программных и аппаратных средств анализа цифровых устройств, а также существенное увеличение выхода годной продукции и уменьшение времени ее выхода на рынок микроэлектроники.