Please use this identifier to cite or link to this item: http://openarchive.nure.ua/handle/document/2328
Title: Методы анализа и диагностирования цифровых устройств (аналитический обзор)
Authors: Багдади, Аммар Авни Аббас
Хаханов, В. И.
Литвинова, Е. И.
Keywords: технологии проектирования систем на кристаллах
аналитический обзор квантовых методов вычислений
технологии тестирования и диагностирования цифровых систем
Issue Date: 2014
Publisher: ХНУРЭ
Citation: Аббас, Б. А. А. Методы анализа и диагностирования цифровых устройств (аналитический обзор) / Багхдади Аммар Авни Аббас, В. И. Хаханов, Е. И. Литвинова // АСУ и приборы автоматики : всеукр. межвед. науч.-техн. сб. – Харьков : Изд-во ХНУРЭ, 2013. – Вып. 166. – С. 59–75.
Abstract: Рассматриваются основные направления технологий проектирования, валидации и обеспечения качества (quality assurance) систем на кристаллах и в пакетах кристаллов. Цель – аналитический обзор квантовых методов вычислений, технологий тестирования и диагностирования цифровых систем на кристаллах при их проектировании и верификации, ориентированный на повышение быстродействия программных и аппаратных средств анализа цифровых устройств, а также существенное увеличение выхода годной продукции и уменьшение времени ее выхода на рынок микроэлектроники.
URI: http://openarchive.nure.ua/handle/document/2328
Appears in Collections:Кафедра автоматизації проектування обчислювальної техніки (АПОТ)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
ХАХАНОВ_АСУ_2014_166.pdf834.4 kBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.