Методы анализа и диагностирования цифровых устройств (аналитический обзор)

Багдади, Аммар Авни Аббас; Хаханов, В. И.; Литвинова, Е. И.

Публікація:
Методы анализа и диагностирования цифровых устройств (аналитический обзор)

dc.contributor.author	Багдади, Аммар Авни Аббас
dc.contributor.author	Хаханов, В. И.
dc.contributor.author	Литвинова, Е. И.
dc.date.accessioned	2016-09-08T10:35:46Z
dc.date.available	2016-09-08T10:35:46Z
dc.date.issued	2014
dc.description.abstract	Рассматриваются основные направления технологий проектирования, валидации и обеспечения качества (quality assurance) систем на кристаллах и в пакетах кристаллов. Цель – аналитический обзор квантовых методов вычислений, технологий тестирования и диагностирования цифровых систем на кристаллах при их проектировании и верификации, ориентированный на повышение быстродействия программных и аппаратных средств анализа цифровых устройств, а также существенное увеличение выхода годной продукции и уменьшение времени ее выхода на рынок микроэлектроники.	uk_UA
dc.identifier.citation	Аббас, Б. А. А. Методы анализа и диагностирования цифровых устройств (аналитический обзор) / Багхдади Аммар Авни Аббас, В. И. Хаханов, Е. И. Литвинова // АСУ и приборы автоматики : всеукр. межвед. науч.-техн. сб. – Харьков : Изд-во ХНУРЭ, 2013. – Вып. 166. – С. 59–75.	uk_UA
dc.identifier.uri	http://openarchive.nure.ua/handle/document/2328
dc.language.iso	ru	uk_UA
dc.publisher	ХНУРЭ	uk_UA
dc.subject	технологии проектирования систем на кристаллах	uk_UA
dc.subject	аналитический обзор квантовых методов вычислений	uk_UA
dc.subject	технологии тестирования и диагностирования цифровых систем	uk_UA
dc.title	Методы анализа и диагностирования цифровых устройств (аналитический обзор)	uk_UA
dc.type	Article	uk_UA
dspace.entity.type	Publication