Please use this identifier to cite or link to this item: http://openarchive.nure.ua/handle/document/1376
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorМачехин, Ю. П.-
dc.date.accessioned2016-07-07T12:06:39Z-
dc.date.available2016-07-07T12:06:39Z-
dc.date.issued2010-
dc.identifier.citationМачехин, Ю. П. Научно-технические условия обеспечения сертификационных испытаний в области нанотехнологий / Ю. П. Мачехин // Функциональная компонентная база микро-, опто- и наноэлектроники : сб. науч. тр. ІІІ Междунар. науч. конф., 28 сент. – 2 окт. 2010 г. – Х. ; Кацивели : ХНУРЭ, 2010. – С. 195-197.uk_UA
dc.identifier.urihttp://openarchive.nure.ua/handle/document/1376-
dc.description.abstractРассматривая процесс развития и становления производства функциональной компонентной базы микро и оптоэлектроники как комплексного процесса, который включает в себя все основные составляющие процесса как разработки так и производства, следует обратить внимание на развитие трех задач: диагностики, стандартизации и сертификации создаваемой компонентной базы.uk_UA
dc.language.isoruuk_UA
dc.publisherХНУРЭuk_UA
dc.subjectнанотехнологииuk_UA
dc.subjectнаноматериалыuk_UA
dc.subjectнанометрологияuk_UA
dc.titleНаучно-технические условия обеспечения сертификационных испытаний в области нанотехнологийuk_UA
dc.typeConference proceedingsuk_UA
Appears in Collections:3 Международная научная конференция "Функциональная компонентная база микро-,опто- и наноэлектроники. Харьков-Кацивели 2010

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
2 _(195-197).doc50.5 kBMicrosoft WordView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.