За технічних причин Електронний архів Харківського національного університету радіоелектроніки «ElAr КhNURE» працює тільки на перегляд. Про відновлення роботи у повному обсязі буде своєчасно повідомлено.
 

Публікація:
Научно-технические условия обеспечения сертификационных испытаний в области нанотехнологий

dc.contributor.authorМачехин, Ю. П.
dc.date.accessioned2016-07-07T12:06:39Z
dc.date.available2016-07-07T12:06:39Z
dc.date.issued2010
dc.description.abstractРассматривая процесс развития и становления производства функциональной компонентной базы микро и оптоэлектроники как комплексного процесса, который включает в себя все основные составляющие процесса как разработки так и производства, следует обратить внимание на развитие трех задач: диагностики, стандартизации и сертификации создаваемой компонентной базы.uk_UA
dc.identifier.citationМачехин, Ю. П. Научно-технические условия обеспечения сертификационных испытаний в области нанотехнологий / Ю. П. Мачехин // Функциональная компонентная база микро-, опто- и наноэлектроники : сб. науч. тр. ІІІ Междунар. науч. конф., 28 сент. – 2 окт. 2010 г. – Х. ; Кацивели : ХНУРЭ, 2010. – С. 195-197.uk_UA
dc.identifier.urihttp://openarchive.nure.ua/handle/document/1376
dc.language.isoruuk_UA
dc.publisherХНУРЭuk_UA
dc.subjectнанотехнологииuk_UA
dc.subjectнаноматериалыuk_UA
dc.subjectнанометрологияuk_UA
dc.titleНаучно-технические условия обеспечения сертификационных испытаний в области нанотехнологийuk_UA
dc.typeConference proceedingsuk_UA
dspace.entity.typePublication

Файли

Оригінальний пакет
Зараз показано 1 - 1 з 1
Немає доступних мініатюр
Назва:
2 _(195-197).doc
Розмір:
50.5 KB
Формат:
Microsoft Word
Ліцензійний пакет
Зараз показано 1 - 1 з 1
Немає доступних мініатюр
Назва:
license.txt
Розмір:
9.42 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис: