Open Electronic Archive of Kharkov National University of Radioelectronics
ISSN 2310-8061
Please use this identifier to cite or link to this item:
http://openarchive.nure.ua/handle/document/1376| Title: | Научно-технические условия обеспечения сертификационных испытаний в области нанотехнологий |
| Authors: | Мачехин, Ю. П. |
| Keywords: | нанотехнологии наноматериалы нанометрология |
| Issue Date: | 2010 |
| Publisher: | ХНУРЭ |
| Citation: | Мачехин, Ю. П. Научно-технические условия обеспечения сертификационных испытаний в области нанотехнологий / Ю. П. Мачехин // Функциональная компонентная база микро-, опто- и наноэлектроники : сб. науч. тр. ІІІ Междунар. науч. конф., 28 сент. – 2 окт. 2010 г. – Х. ; Кацивели : ХНУРЭ, 2010. – С. 195-197. |
| Abstract: | Рассматривая процесс развития и становления производства функциональной компонентной базы микро и оптоэлектроники как комплексного процесса, который включает в себя все основные составляющие процесса как разработки так и производства, следует обратить внимание на развитие трех задач: диагностики, стандартизации и сертификации создаваемой компонентной базы. |
| URI: | http://openarchive.nure.ua/handle/document/1376 |
| Appears in Collections: | 3 Международная научная конференция "Функциональная компонентная база микро-,опто- и наноэлектроники. Харьков-Кацивели 2010 |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| 2 _(195-197).doc | 50.5 kB | Microsoft Word | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.
Admin Tools