Публікація: Дедуктивный метод кубического моделирования неисправностей цифровых устройств
Завантаження...
Дата
1999
Назва журналу
ISSN журналу
Назва тома
Видавництво
ХГТУРЭ
Анотація
Предлагается метод дедуктивного моделирования константных логических неисправностей для цифровых устройств (ЦУ), где функциональные элементы представлены в виде кубических покрытий. Впервые получено аналитическое выражение формального анализа покрытия на тест-векторе для транспортирования входных списков неисправностей на выход примитива. Метод инвариантен по отношению к формам представления цифровых схем, задающим способы описания вентилей, функциональных элементов, алгоритмов. Известные дедуктивные формулы анализа вентильных схем
являются частным случаем полученного выражения.
Опис
Ключові слова
метод дедуктивного моделирования, тест-вектор, входной список неисправностей
Бібліографічний опис
Хаханов В. И. Дедуктивный метод кубического моделирования неисправностей цифровых устройств / Хаханов В. И., Шкиль А. С., Ханько В. В. // Радиоэлектроника и информатика : науч.-техн. журн. – Х. : ХГТУРЭ, 1999. – Вып. 1. – С. 77–84.