Дедуктивный метод кубического моделирования неисправностей цифровых устройств

Abstract

Предлагается метод дедуктивного моделирования константных логических неисправностей для цифровых устройств (ЦУ), где функциональные элементы представлены в виде кубических покрытий. Впервые получено аналитическое выражение формального анализа покрытия на тест-векторе для транспортирования входных списков неисправностей на выход примитива. Метод инвариантен по отношению к формам представления цифровых схем, задающим способы описания вентилей, функциональных элементов, алгоритмов. Известные дедуктивные формулы анализа вентильных схем являются частным случаем полученного выражения.