Публікація: Количественные оценки тестопригодности цифровых устройств на схемотехническом уровне
Завантаження...
Дата
1998
Назва журналу
ISSN журналу
Назва тома
Видавництво
ХНУРЭ
Анотація
Рассматривается выбор и вычисление оценок тестопригодности для цифрового устройства, которые характеризуют затраты на построение диагностического обеспечения.
Опис
Ключові слова
тестопригодность, цифровое устройство
Бібліографічний опис
Кривуля Г. Ф. Количественные оценки тестопригодности цифровых устройств на схемотехническом уровне / Г. Ф. Кривуля, Рами Аль-Матернех, А. С. Шкиль // Радиоэлектроника и информатика : науч.-техн. журн. – Х. : ХНУРЭ, 1998. – Вып. 4. – С. 75-79.