Публікація: Количественные оценки тестопригодности цифровых устройств на схемотехническом уровне
Завантаження...
Дата
Назва журналу
ISSN журналу
Назва тому
Видавець
ХНУРЭ
Анотація
Рассматривается выбор и вычисление оценок тестопригодности для цифрового устройства, которые характеризуют затраты на построение диагностического обеспечения.
Опис
Ключові слова
Цитування
Кривуля Г. Ф. Количественные оценки тестопригодности цифровых устройств на схемотехническом уровне / Г. Ф. Кривуля, Рами Аль-Матернех, А. С. Шкиль // Радиоэлектроника и информатика : науч.-техн. журн. – Х. : ХНУРЭ, 1998. – Вып. 4. – С. 75-79.