Please use this identifier to cite or link to this item: http://openarchive.nure.ua/handle/document/4599
Title: Определение оптимального критического значения амплитуды для двудиапазонного фотометрического пересчета
Authors: Саваневич, В. Е.
Кожухов, А. М.
Брюховецкий, А. Б.
Власенко, В. П.
Ткачев, В. Н.
Keywords: астрероид
CoLiTec
изображение
Issue Date: 2011
Publisher: Восточно-Европейский журнал передовых технологий
Citation: Саваневич В.Е. Определение оптимального критического значения амплитуды для двудиапазонного фотометрического пересчета / В.Е. Саваневич, А.М. Кожухов, А.Б. Брюховецький, В.П. Власенко, В.Н. Ткачев // Восточно-Европейский журнал передовых технологий. – 2011. – № 4/9 (52). – С. 4–7.
Abstract: Предложен метод определения оптимального критического значения амплитуды для получения наилучших коэффициентов двухдиапазонного фотометрического пересчета. Метод использован авторами в разработанной системе автоматизированного обнаружения новых и известных астероидов CoLiTec. Приведены результаты практического применения данной системы.
URI: http://openarchive.nure.ua/handle/document/4599
ISSN: 1729-3774
1729-4061
Appears in Collections:Кафедра електронних обчислювальних машин (ЕОМ)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
ОПРЕДЕЛЕНИЕ оптимального критического значения.pdfОсновная статья404.23 kBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.