Публікація:
Підвищення якості тесту на основі методу аналізу тестопригодности пристрої на різних рівнях опису

Завантаження...
Зображення мініатюри

Дата

2007

Назва журналу

ISSN журналу

Назва тома

Видавництво

Науково-технічний журнал : Радіоелектронні і комп'ютерні системи (РЕКС)

Дослідницькі проекти

Організаційні підрозділи

Видання журналу

Анотація

Предлагается метод анализа тестопригодности цифрового устройства, представленного на системном уровне в виде кода VHDL и трансформированого в ориентированный граф для упрощения задач верификации, синтеза тестов и/или улучшения покрытия неисправностей для заданных входных наборов. Метод основан на топологическом анализе синтезированного устройства и последующей его модификации путем разделения режимов работы (тестовый и функциональный) в целях улучшения тестопригодности и упрощения решения задач тестирования.

Опис

Ключові слова

тестопригодность, управляемость, наблюдаемость, путь сканирования, детерминированный тест, взвешенный тест

Бібліографічний опис

Зайченко С. А. Підвищення якості тесту на основі методу аналізу тестопригодности пристрої на різних рівнях опису / Зайченко С. А., Каминская М. А. // Науково-технічний журнал : Радіоелектронні і комп'ютерні системи (РЕКС) - 2007

DOI