Please use this identifier to cite or link to this item: http://openarchive.nure.ua/handle/document/2447
Title: Підвищення якості тесту на основі методу аналізу тестопригодности пристрої на різних рівнях опису
Authors: Зайченко, С. А.
Каминская, М. А.
Keywords: тестопригодность
управляемость
наблюдаемость
путь сканирования
детерминированный тест
взвешенный тест
Issue Date: 2007
Publisher: Науково-технічний журнал : Радіоелектронні і комп'ютерні системи (РЕКС)
Citation: Зайченко С. А. Підвищення якості тесту на основі методу аналізу тестопригодности пристрої на різних рівнях опису / Зайченко С. А., Каминская М. А. // Науково-технічний журнал : Радіоелектронні і комп'ютерні системи (РЕКС) - 2007
Abstract: Предлагается метод анализа тестопригодности цифрового устройства, представленного на системном уровне в виде кода VHDL и трансформированого в ориентированный граф для упрощения задач верификации, синтеза тестов и/или улучшения покрытия неисправностей для заданных входных наборов. Метод основан на топологическом анализе синтезированного устройства и последующей его модификации путем разделения режимов работы (тестовый и функциональный) в целях улучшения тестопригодности и упрощения решения задач тестирования.
URI: http://openarchive.nure.ua/handle/document/2447
Appears in Collections:Кафедра автоматизації проектування обчислювальної техніки (АПОТ)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Зайченко_РЕКС_2007_7(26)_1.pdf1.59 MBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.

Admin Tools