Модели генерации тестов и методы диагностирования SOC-компонентов

Abstract

Предлагается структурная модель отношений компонентов (функциональность, устройство, тест, дефекты), которая позволяет определять и классифицировать пути решения практических задач, включая синтез тестов, моделирование неисправностей и поиск дефектов. Описываются методы синтеза тестов для функциональностей, заданных матричными формами описания поведения цифровых компонентов, которые отличаются параллелизмом векторных операций над таблицами. Предлагаются усовершенствованные методы поиска функциональных нарушений, которые дают возможность существенно повысить быстродействие вычислительных процедур, связанных с диагностированием и восстановлением работоспособности программных и аппаратных продуктов. Модели и методы синтеза тестов для функциональностей и диагностирования нарушений могут быть использованы в качестве встроенных компонентов инфраструктуры сервисного обслуживания цифровых систем на кристаллах с применением стандарта граничного сканирования IEEE 1500.