Please use this identifier to cite or link to this item: http://openarchive.nure.ua/handle/document/2206
Title: Применение IEEE стандартов для тестирования программно-технических комплексов
Authors: Хаханов, В. И.
Елисеев, В. В.
Keywords: System on Chip (SoC)
Network on Chip (NoC)
IEEE стандарты
ad-hoc технологии
СTL
Issue Date: 2006
Publisher: Науково-технічний журнал : Радіоелектронні і комп'ютерні системи (РЕКС)
Citation: Хаханов В. И. Применение IEEE стандартов для тестирования программно-технических комплексов / В. И. Хаханов, В. В. Елисеев // Науково-технічний журнал : Радіоелектронні і комп'ютерні системи (РЕКС) - 2006
Abstract: Предлагается подход к использованию IEEE стандартов тестирования для диагностирования сложных иерархических программно-технических комплексов, относящихся к критическим технологиям. Используются различные ad-hoc решения тестирования систем на кристаллах. Предложен алгоритм тестирования программно-технических комплексов на различных уровнях иерархии.
URI: http://openarchive.nure.ua/handle/document/2206
Appears in Collections:Кафедра автоматизації проектування обчислювальної техніки (АПОТ)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Хаханов_РЕКС_2006_6(18)_1.pdf1.5 MBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.