Публікація: Применение IEEE стандартов для тестирования программно-технических комплексов
Завантаження...
Дата
2006
Автори
Назва журналу
ISSN журналу
Назва тома
Видавництво
Науково-технічний журнал : Радіоелектронні і комп'ютерні системи (РЕКС)
Анотація
Предлагается подход к использованию IEEE стандартов тестирования для диагностирования сложных иерархических программно-технических комплексов, относящихся к критическим технологиям. Используются различные ad-hoc решения тестирования систем на кристаллах. Предложен алгоритм тестирования программно-технических комплексов на различных уровнях иерархии.
Опис
Ключові слова
System on Chip (SoC), Network on Chip (NoC), IEEE стандарты, ad-hoc технологии, СTL
Бібліографічний опис
Хаханов В. И. Применение IEEE стандартов для тестирования программно-технических комплексов / В. И. Хаханов, В. В. Елисеев // Науково-технічний журнал : Радіоелектронні і комп'ютерні системи (РЕКС) - 2006