Please use this identifier to cite or link to this item: http://openarchive.nure.ua/handle/document/2187
Title: Встроенное аппаратное моделирование при проектировании SoC
Authors: Хаханов, В. И.
Ктейман, Хассан
Парфенитий, А. Н.
Хаханова, И. В.
Keywords: моделирование
верификация
цифровые системы на кристаллах
анализ переходных процессов
Issue Date: 2007
Publisher: Науково-технічний журнал : Радіоелектронні і комп'ютерні системи (РЕКС)
Citation: Хаханов В. И. Встроенное аппаратное моделирование при проектировании SoC / Хаханов В. И., Хассан Ктейман, Парфенитий А. Н., Хаханова И. В. // Науково-технічний журнал : Радіоелектронні і комп'ютерні системи (РЕКС) - 2007
Abstract: Предлагаются методы аппаратного моделирования неисправностей и исправного поведения, основанные на методологии HES и PRUS фирмы Aldec, USA. Предлагается структурно-функциональная многозначная аппаратная модель цифрового устройства с шинной организацией линий для многократного повышения быстродействия анализа переходных процессов; представлена аппаратурная реализация троичного метода моделирования исправного поведения HES-MV – Hardware Embedded Simulation based on Multi-Valued alphabet для цифровых проектов вентильного и регистрового уровней описания.
URI: http://openarchive.nure.ua/handle/document/2187
Appears in Collections:Кафедра автоматизації проектування обчислювальної техніки (АПОТ)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Кривуля_РЕКС_2007_8(27)_4.pdf1.64 MBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.