Please use this identifier to cite or link to this item: http://openarchive.nure.ua/handle/document/1750
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorГордиенко, Ю. Е.-
dc.contributor.authorЛаркин, С. Ю.-
dc.contributor.authorЧхотуа, М. С. Е.-
dc.date.accessioned2016-08-02T11:48:20Z-
dc.date.available2016-08-02T11:48:20Z-
dc.date.issued2012-
dc.identifier.citationГордиенко, Ю. Е. Роль зазора между зондом и объектом в сканирующей микроволновой микроскопии / Ю. Е. Гордиенко, С. Ю. Ларкин, М. С. Е. Чхотуа М.С.Е. // Функциональная база наноэлектроники : сб. науч. тр. V Междунар. науч. конф., 30 сент. – 5 окт. 2012 г. – Х. ; Кацивели : ХНУРЭ, 2012. – С. 201–204.uk_UA
dc.identifier.urihttp://openarchive.nure.ua/handle/document/1750-
dc.description.sponsorshipInfluence of sample-tip distance on the fundamental signals in scanning microwave microscopy is mainly disproportional; it is shown in experimental researches. Also it depends on sample electro-physical parameters, and aperture geometry. That’s why the most of scanning microwave microscopy analysis of different objects is mostly illustrative and requires additional image reconstruction. For reconstruction algorithm formation the establishing of physics of near-field interactions with sample-tip distance is necessary.uk_UA
dc.language.isoruuk_UA
dc.publisherХНУРЭuk_UA
dc.subjectнаноэлектроникаuk_UA
dc.subjectсканирующая микроволновая микроскопияuk_UA
dc.subjectрезонаторные зондыuk_UA
dc.titleРоль зазора между зондом и объектом в сканирующей микроволновой микроскопииuk_UA
dc.typeConference proceedingsuk_UA
Appears in Collections:Международная научная конференция "Функциональная база наноэлектроники" Харьков-Кацивели 2011-2012

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
3939.doc517.5 kBMicrosoft WordView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.