Публікація: Роль зазора между зондом и объектом в сканирующей микроволновой микроскопии
| dc.contributor.author | Гордиенко, Ю. Е. | |
| dc.contributor.author | Ларкин, С. Ю. | |
| dc.contributor.author | Чхотуа, М. С. Е. | |
| dc.date.accessioned | 2016-08-02T11:48:20Z | |
| dc.date.available | 2016-08-02T11:48:20Z | |
| dc.date.issued | 2012 | |
| dc.description.sponsorship | Influence of sample-tip distance on the fundamental signals in scanning microwave microscopy is mainly disproportional; it is shown in experimental researches. Also it depends on sample electro-physical parameters, and aperture geometry. That’s why the most of scanning microwave microscopy analysis of different objects is mostly illustrative and requires additional image reconstruction. For reconstruction algorithm formation the establishing of physics of near-field interactions with sample-tip distance is necessary. | uk_UA |
| dc.identifier.citation | Гордиенко, Ю. Е. Роль зазора между зондом и объектом в сканирующей микроволновой микроскопии / Ю. Е. Гордиенко, С. Ю. Ларкин, М. С. Е. Чхотуа М.С.Е. // Функциональная база наноэлектроники : сб. науч. тр. V Междунар. науч. конф., 30 сент. – 5 окт. 2012 г. – Х. ; Кацивели : ХНУРЭ, 2012. – С. 201–204. | uk_UA |
| dc.identifier.uri | http://openarchive.nure.ua/handle/document/1750 | |
| dc.language.iso | ru | uk_UA |
| dc.publisher | ХНУРЭ | uk_UA |
| dc.subject | наноэлектроника | uk_UA |
| dc.subject | сканирующая микроволновая микроскопия | uk_UA |
| dc.subject | резонаторные зонды | uk_UA |
| dc.title | Роль зазора между зондом и объектом в сканирующей микроволновой микроскопии | uk_UA |
| dc.type | Conference proceedings | uk_UA |
| dspace.entity.type | Publication |
Файли
Оригінальний пакет
1 - 1 з 1
Ліцензійний пакет
1 - 1 з 1
Немає доступних мініатюр
- Назва:
- license.txt
- Розмір:
- 9.42 KB
- Формат:
- Item-specific license agreed upon to submission
- Опис: